三豐數(shù)顯電子卡尺的基本檢驗及測量方式解析

更新時間：2020-08-20

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　　三豐數(shù)顯電子卡尺的測量方式可根據(jù)零點設(shè)定方法不同分為測量和相對測量：

　　1.測量：設(shè)定零點后進(jìn)行的測量；

　　2.相對測量：設(shè)定相對零點后進(jìn)行的測量。

　　數(shù)顯電子卡尺相對零點設(shè)定用等于被測量工件標(biāo)準(zhǔn)尺寸的量塊（或其它標(biāo)準(zhǔn)件）夾在卡尺兩外量面間，在保持一定壓力（等于測量力）同時清零（如此便消除了數(shù)顯卡尺原來在該尺寸的示值誤差）。相對測量時，只顯示被測工件尺寸與標(biāo)準(zhǔn)尺寸的差值，測量結(jié)果更準(zhǔn)確。

　　數(shù)顯電子卡尺檢驗項目和檢驗方法，對判斷數(shù)顯卡尺質(zhì)量優(yōu)劣適用：

　　1.外觀

　　無銹斑、碰傷、毛刺，邊角倒鈍(手感無刺激)，外形整齊，外觀清潔；無剩磁(量爪端不吸引小鐵件如大頭針、別針)；

　　2.量面

　　外量面(測量軸直徑用)粗糙度Ra0.2(其它量面Ra0.4)，邊緣無毛刺(手指摸)，合攏不透光；量爪平齊，無碰傷彎勾(目力觀察)；

　　3.顯示

　　啟動電源，數(shù)字顯示清楚完整(不缺筆劃)，各按鍵功能正常；

　　4.側(cè)向間隙

　　尺框槽與尺身寬度方向的配合間隙，此間隙越小越好(應(yīng)接近零)。此項要求比較重要。檢驗時面對顯示屏并使尺頭朝上，使兩外量面張開約20mm，右手抓尺身頭部，左手抓尺框外量爪并用力左右推拉，靠近耳聽?wèi)?yīng)無撞擊聲；或目力觀察尺框槽與尺身基面(靠近外量爪的尺身窄側(cè)面)接觸處，應(yīng)無目力所見之間隙變化。

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三豐數(shù)顯電子卡尺的基本檢驗及測量方式解析