影響三豐數(shù)顯電子卡尺測量結(jié)果的誤差因素

更新時間：2023-02-15

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　　三豐數(shù)顯電子卡尺是測量工件平面及平行特征或內(nèi)/外徑的常用“利器”。但遇到測量復(fù)雜形狀的工件時，如曲面或狹窄的溝槽等，標準的通用量具可能就難以到達準確的測量位置，選擇專用的非標量具則相對更簡便、更經(jīng)濟。要正確使用卡尺還有很多的注意事項，我們就從影響測量結(jié)果的誤差因素講起。

　　誤差因素

　　在使用卡尺測量時，存在著多種引起誤差的因素，如視差、結(jié)構(gòu)不符合阿貝原理引起的誤差、卡尺和工件之間的溫度差異引起的熱膨脹影響等等。

　　除此以外，因卡尺無定壓裝置，測量時，適合的，均勻的測力難以把握，也是產(chǎn)生誤差的又一因素。

　　卡尺的結(jié)構(gòu)不符合阿貝原理

　　卡尺的讀數(shù)軸和測量軸因不同軸而不符合阿貝原理，所以在使用卡尺時，用量爪的根部或頂端進行測量，會存在加大測量誤差的危險。測量時需注意被測工件盡可能地接近尺身部分（讀數(shù)軸）。

　　讀取刻度的視差

　　當檢查游標刻度線是否與主要刻度分線對齊時，直視游標刻度線。

　　游標尺與主尺刻度面之間存在著階差高度，這容易引起讀數(shù)誤差。如下圖所示，如果從斜方向觀察游標刻度線，會產(chǎn)生圖中ΔX所示誤差。為了避免這種因素的影響，JIS規(guī)格中規(guī)定階差高度（H）不應(yīng)大于0.3mm。

上一條使用jpg塞規(guī)的基本步驟看5個方面
下一條日本昭日硬度計檢定中常見的幾種誤差

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